|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
A data-driven approach based on wavelet analysis and deep learning for identification of multiple-cracked beam structures under moving load |
| Auteur: |
Nguyen, Thanh Q. Vuong, Luan C. Le, Canh M. Ngo, Nhi K. Nguyen- Xuan, H. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 162 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |