|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness profiling of transparent plate using wavelength-tuned phase-shifting analysis |
| Auteur: |
Kim, Yangjin Moon, Younghoon Hibino, Kenichi Mitsuishi, Mamoru |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 161 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| << vorige |