|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Proton radiation damage experiment for X-ray SOI pixel detectors |
| Auteur: |
Yarita, Keigo Kohmura, Takayoshi Hagino, Kouichi Kogiso, Taku Oono, Kenji Negishi, Kousuke Tamasawa, Koki Sasaki, Akinori Yoshiki, Satoshi Tsuru, Takeshi Go Tanaka, Takaaki Matsumura, Hideaki Tachibana, Katsuhiro Hayashi, Hideki Harada, Sodai Takeda, Ayaki Mori, Koji Nishioka, Yusuke Takebayashi, Nobuaki Yokoyama, Shoma Fukuda, Kohei Arai, Yasuo Miyoshi, Toshinobu Kurachi, Ikuo Hamano, Tsuyoshi |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 924 (2019) nr. C pagina's 457-461 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |