|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation and measurement of total ionizing dose radiation induced image lag increase in pinned photodiode CMOS image sensors |
| Auteur: |
Liu, Jing Chen, Wei Wang, Zujun Xue, Yuanyuan Yao, Zhibin He, Baoping Ma, Wuying Jin, Junshan Sheng, Jiangkun Dong, Guantao |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 856 () nr. C pagina's 32-35 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |