|
Reflectance dependence of polytetrafluoroethylene on thickness for xenon scintillation light |
|
|
|
Titel: |
Reflectance dependence of polytetrafluoroethylene on thickness for xenon scintillation light |
Auteur: |
Haefner, J. Neff, A. Arthurs, M. Batista, E. Morton, D. Okunawo, M. Pushkin, K. Sander, A. Stephenson, S. Wang, Y. Lorenzon, W. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
Paginering: |
Jaargang 856 () nr. C pagina's 86-91 |
Jaar: |
2017 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|