|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Sub-microradian surface slope metrology with the ALS Developmental Long Trace Profiler |
| Auteur: |
Yashchuk, Valeriy V. Barber, Samuel Domning, Edward E. Kirschman, Jonathan L. Morrison, Gregory Y. Smith, Brian V. Siewert, Frank Zeschke, Thomas Geckeler, Ralf Just, Andreas |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 616 (2010) nr. 2-3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |