|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
Chemical characterization of SiC x N y nanolayers by FTIR-and Raman spectroscopy, XPS and TXRF-NEXAFS |
| Auteur: |
Baake, O. Fainer, N.I. Hoffmann, P. Kosinova, M.L. Rumyantsev, Yu.M. Trunova, V.A. Klein, A. Ensinger, W. Pollakowski, B. Beckhoff, B. Ulm, G. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 603 (2009) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 66 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |