|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
EPR, XRD and optical reflectivity studies of radiation damage in silicon after high energy implantation of Ni ions |
| Auteur: |
Varichenko, V.S. Zaitsev, A.M. Lindner, J.K.N. Domres, R. Penina, N.M. Erchak, D.P. Chelyadinskii, A.R. Martinovitsh, V.A. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 94 (1994) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |