|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
4H-SiC Schottky diode radiation hardness assessment by IBIC microscopy |
| Auteur: |
Vittone, Ettore Olivero, Paolo Jakšic̈, Milko Pastuović, Željko |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 537 () nr. C pagina's 14-22 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |