|
Raman scattering studies of low energy Ar+ ion implanted monocrystalline silicon for synchrotron applications |
|
|
|
Titel: |
Raman scattering studies of low energy Ar+ ion implanted monocrystalline silicon for synchrotron applications |
Auteur: |
Kumar, N. Volodin, V.A. Goryainov, S.V. Chernyshev, A.K. Kozakov, A.T. Scrjabin, A.A. Chkhalo, N.I. Mikhailenko, M.S. Pestov, A.E. Zorina, M.V. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 534 () nr. C pagina's 97-102 |
Jaar: |
2023 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|