|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of silicon drift detector in PIXE tomography system of Fudan University |
| Auteur: |
Wang, Shimei Yu, Tao Li, Jing Xue, Huanlu Liu, Xin Zhang, Wei Zhang, Yu Wang, Weiwei Shen, Hao Li, Bo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 512 () nr. C pagina's 108-113 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |