|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Low energy proton induced single event upset in 65nm DDR and QDR commercial SRAMs |
| Auteur: |
Ye, B. Liu, J. Wang, T.S. Liu, T.Q. Maaz, K. Luo, J. Wang, B. Yin, Y.N. Ji, Q.G. Sun, Y.M. Hou, M.D. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 406 (2017) nr. PB pagina's 443-448 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |