|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices |
| Auteur: |
Luo, Jie Liu, Jie Sun, Youmei Hou, Mingdong Xi, Kai Liu, Tianqi Wang, Bin Ye, Bing |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 406 (2017) nr. PB pagina's 431-436 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |