|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate depth profiling of oxidized SiGe (intrinsic or doped) thin films by extended Full Spectrum ToF-SIMS |
| Auteur: |
Py, M. Saracco, E. Damlencourt, J.F. Colonna, J.P. Martinez, E. Delaye, V. Fabbri, J.M. Barnes, J.P. Hartmann, J.M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 273 (2012) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 76 gevonden artikelen
| volgende >> |