Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 72 van 75 gevonden artikelen
 
 
  X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
 
 
Titel: X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
Auteur: Hesse, A.
Zhuang, Y.
HolĂ˝, V.
Stangl, J.
Zerlauth, S.
Schäffler, F.
Bauer, G.
Darowski, N.
Pietsch, U.
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 200 (2003) nr. C pagina's 6 p.
Jaar: 2003
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 72 van 75 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland