|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 61 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of minute local strain in semiconductor materials and electronic devices by using a highly parallel X-ray microbeam |
| Auteur: |
Matsui, J. Tsusaka, Y. Yokoyama, K. Takeda, S. Katou, M. Kurihara, H. Watanabe, K. Kagoshima, Y. Kimura, S. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 199 (2003) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 61 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |