|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Electromigration in integrated circuit interconnects studied by X-ray microscopy |
| Auteur: |
Schneider, G. Denbeaux, G. Anderson, E. Bates, W. Salmassi, F. Nachimuthu, P. Pearson, A. Richardson, D. Hambach, D. Hoffmann, N. Hasse, W. Hoffmann, K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 199 (2003) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |