|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
An IR-reflectivity and X-ray diffraction study of high energy He-ion implantation-induced damage in 4H–SiC |
| Auteur: |
Declémy, A. Oliviero, E. Beaufort, M.F. Barbot, J.F. David, M.L. Blanchard, C. Tessier, Y. Ntsoenzok, E. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 186 (2002) nr. 1-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |