|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 131 van 132 gevonden artikelen
| Titel: |
Trace surface analysis: 30 ppb analysis with removal of less than a monolayer. Fe and Ti impurities in the first atomic layer of Si wafers |
| Auteur: |
Pellin, M.J. Young, C.E. Calaway, W.F. Gruen, D.M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 13 (1986) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 131 van 132 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |