|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 68 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparative EPR study of ion implantation induced damage in Si, Si1−x Ge x (x ≠ 0) and SiC |
| Auteur: |
Barklie, R.C. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 120 (1996) nr. 1-4 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 68 gevonden artikelen
| volgende >> |