|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Technology and characterization of MIS structures with co-doped silicon nanocrystals (Si-NCs) embedded in hafnium oxide (HfOx) ultra-thin layers |
| Auteur: |
Mazurak, A. Mroczyński, R. Jasiński, J. Tanous, D. Majkusiak, B. Kano, S. Sugimoto, H. Fujii, M. Valenta, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 178 (2017) nr. C pagina's 298-303 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |