|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficient methodology to extract interface traps parameters for TCAD simulations |
| Auteur: |
Couso, C. Martin-Martinez, J. Porti, M. Nafria, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 178 (2017) nr. C pagina's 66-70 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |