|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 187 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Ni/Ho and Ni/Er fully silicided metal gates on SiO2 gate dielectric |
| Auteur: |
Wang, Bao-Min Ru, Guo-Ping Jiang, Yu-Long Qu, Xin-Ping Li, Bing-Zong Liu, Ran |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 85 (2008) nr. 10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 187 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |