|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of a Cr2O3 scale formed on chromium with implanted yttrium ions by advanced electron microscopy |
| Auteur: |
Gil, A. Kryshtal, O. Brylewski, T. Czyrska-Filemonowicz, A. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 368 (2019) nr. C pagina's 232-242 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |