|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterisation of deep level defects created by bombarding the n-type 4H-SiC with 1.8 MeV protons |
| Auteur: |
Omotoso, E. Paradzah, A.T. Janse van Rensburg, P.J. Legodi, M.J. Auret, F.D. Igumbor, E. Danga, H.T. Diale, M. Meyer, W.E. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 355 (2018) nr. C pagina's 2-6 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |