|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Monitoring tantalum nitride thin film structure by reactive RF magnetron sputtering: Influence of processing parameters |
| Auteur: |
Cheviot, Maureen Gouné, Mohamed Poulon-Quintin, Angéline |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 284 (2015) nr. C pagina's 192-197 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |