Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
 
 
  Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
 
 
Titel: Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
Auteur: Sebastiani, M.
Eberl, C.
Bemporad, E.
Korsunsky, A.M.
Nix, W.D.
Carassiti, F.
Verschenen in: Surface & coatings technology
Paginering: Jaargang 251 (2014) nr. C pagina's 11 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland