|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale |
| Auteur: |
Sebastiani, M. Eberl, C. Bemporad, E. Korsunsky, A.M. Nix, W.D. Carassiti, F. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 251 (2014) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |