|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Residual stresses in (Zr,Hf)N films (up to 11.9 at.% Hf) measured by X-ray diffraction using experimentally calculated XECs |
| Auteur: |
Atar, E. Sarioglu, C. Cimenoglu, H. Kayali, E.S. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 191 (2005) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |