|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 146 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparative study of high resolution transmission electron microscopy, atomic force microscopy and infrared spectroscopy for GaN thin films grown on sapphire by metalorganic chemical vapor deposition |
| Auteur: |
Feng, Zhe Chuan Li, Kun Hou, Yun Tian Zhao, Jie Lu, W. Collins, W.E. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 200 (2006) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 146 gevonden artikelen
| volgende >> |