|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
RBS depth profiling and optical characterization of multilayers of TiO2 (20 nm) and Ge (15 nm) |
| Auteur: |
Hussain, Mirza Sajjad Mehmood, Mazhar Ahmad, Jamil Tanvir, M. Tauseef Khan, A. Faheem Ali, Turab Mahmood, Arshad |
| Verschenen in: |
Materials chemistry and physics |
| Paginering: | Jaargang 139 (2013) nr. 1 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |