|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Eigenstructure tracking analysis for revealing noise pattern and local rank in instrumental profiles: application to transmittance and absorbance IR spectroscopy |
| Auteur: |
Toft, Jostein Kvalheim, Olav M. |
| Verschenen in: |
Chemometrics and intelligent laboratory systems |
| Paginering: | Jaargang 19 (1993) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |