|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement and continuous improvement of software reliability throughout software life-cycle 1 This research is supported in part by NSF CAREER award CCR-9733588, Nortel Technology, and IBM Toronto Lab. 1 |
| Auteur: |
Tian, Jeff |
| Verschenen in: |
Journal of systems and software |
| Paginering: | Jaargang 47 (1999) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |