|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Mutation testing cost reduction by clustering overlapped mutants |
| Auteur: |
Ma, Yu-Seung Kim, Sang-Woon |
| Verschenen in: |
Journal of systems and software |
| Paginering: | Jaargang 115 (2016) nr. C pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |