|
Concurrent delamination propagation and deformation localization in semiconductor devices |
|
|
|
Titel: |
Concurrent delamination propagation and deformation localization in semiconductor devices |
Auteur: |
Lavoie, Shawn R. Nian, Guodong Li, Chen-Wei Lan, Jason Lin, Yu-Sheng Lin, Yi-Lun Tang, Sherwin Wu, Jyun-Lin Vlassak, Joost J. Suo, Zhigang |
Verschenen in: |
Mechanics of materials |
Paginering: |
Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2024 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|