|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
DMWMNet: A novel dual-branch multi-level convolutional network for high-performance mixed-type wafer map defect detection in semiconductor manufacturing |
| Auteur: |
Zhang, Xiangyan Jiang, Zhong Yang, Hong Mo, Yadong Zhou, Linkun Zhang, Ying Li, Jian Wei, Shimin |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 161 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |