|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of taxonomy for classifying defect patterns on wafer bin map using Bin2Vec and clustering methods |
| Auteur: |
Lee, Dong-Hee Kim, Eun-Su Choi, Seung-Hyun Bae, Young-Mok Park, Jong-Bum Oh, Young-Chan Kim, Kwang-Jae |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 152 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |