|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Multiple degradation mode analysis via gated recurrent unit mode recognizer and life predictors for complex equipment |
| Auteur: |
Luo, Qinyuan Chang, Yuanhong Chen, Jinglong Jing, Hongjie Lv, Haixin Pan, Tongyang |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 123 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |