|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Near-field microscopy inspection of nano scratch defects on the monocrystalline silicon surface |
| Auteur: |
Yan, Ying Wang, Yonghao Zhou, Ping Huang, Ning Guo, Dongming |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 56 (2019) nr. C pagina's 506-512 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |