|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Extension of the range of profile surface roughness measurements using metrological atomic force microscope |
| Auteur: |
Misumi, Ichiko Sugawara, Kentaro Kizu, Ryosuke Hirai, Akiko Gonda, Satoshi |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 56 (2019) nr. C pagina's 321-329 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |