|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Micro-Raman spectroscopy stress measurement method for porous silicon film |
| Auteur: |
Li, Qiu Qiu, Wei Tan, Haoyun Guo, Jiangang Kang, Yilan |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 48 (2010) nr. 11 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |