|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Quality assessment of the optical thin films using line field spectral domain optical coherence tomography |
| Auteur: |
Shirazi, Muhammad Faizan Wijesinghe, Ruchire Eranga Ravichandran, Naresh Kumar Kim, Pilun Jeon, Mansik Kim, Jeehyun |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 110 () nr. C pagina's 47-53 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |