Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 42 van 55 gevonden artikelen
 
 
  Quality assessment of the optical thin films using line field spectral domain optical coherence tomography
 
 
Titel: Quality assessment of the optical thin films using line field spectral domain optical coherence tomography
Auteur: Shirazi, Muhammad Faizan
Wijesinghe, Ruchire Eranga
Ravichandran, Naresh Kumar
Kim, Pilun
Jeon, Mansik
Kim, Jeehyun
Verschenen in: Optics and lasers in engineering
Paginering: Jaargang 110 () nr. C pagina's 47-53
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 42 van 55 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland