|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
A fault-analysis oriented re-design and cost-effectiveness evaluation methodology for error tolerant applications |
| Auteur: |
Hsieh, Tong-Yu Li, Kuan-Hsien Chung, Chen-Chia |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 66 () nr. C pagina's 48-57 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| volgende >> |