|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A 20nm robust single-ended boost-less 7T FinFET sub-threshold SRAM cell under process–voltage–temperature variations |
| Auteur: |
Kushwah, C.B. Vishvakarma, S.K. Dwivedi, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. C pagina's 75-88 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |