|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Timing yield analysis considering process-induced temperature and supply voltage variations |
| Auteur: |
Haghdad, Kian Anis, Mohab |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 43 () nr. 12 pagina's 956-961 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |