|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Micro-Raman spectroscopy measurement of stress in silicon |
| Auteur: |
Wu, Xiaoming Yu, Jianyuan Ren, Tianling Liu, Litian |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 38 () nr. 1 pagina's 87-90 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |