Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
 
 
  Micro-Raman spectroscopy measurement of stress in silicon
 
 
Titel: Micro-Raman spectroscopy measurement of stress in silicon
Auteur: Wu, Xiaoming
Yu, Jianyuan
Ren, Tianling
Liu, Litian
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 38 () nr. 1 pagina's 87-90
Jaar: 2007
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland