|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of microstructure and resistivity evolution for electroplated copper films at near-room temperature |
| Auteur: |
Teh, W.H Koh, L.T Chen, S.M Xie, J Li, C.Y Foo, P.D |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 7 pagina's 579-585 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |