|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron trapping probabilities in hydrogen ion implanted silicon dioxide films thermally grown on polycrystalline silicon |
| Auteur: |
Gueorguiev, V.K Ivanov, Tz.E Dimitriadis, C.A Popova, L.I Andreev, S.K |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 3 pagina's 207-211 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |