Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Thorough analysis of quantum mechanical effects on MOS structure characteristics in threshold region
 
 
Titel: Thorough analysis of quantum mechanical effects on MOS structure characteristics in threshold region
Auteur: Ma, Yutao
Liu, Litian
Yu, Zhiping
Li, Zhijian
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 31 () nr. 11-12 pagina's 913-921
Jaar: 2000
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland