Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
 
  The influence of strong electric field on the interface in the Al–SiO2-n-Si Auger transistor
 
 
Titel: The influence of strong electric field on the interface in the Al–SiO2-n-Si Auger transistor
Auteur: Rogachev, A.A.
Kalganov, V.D.
Mileshkina, N.V.
Ostroumova, E.V.
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 31 () nr. 11-12 pagina's 905-911
Jaar: 2000
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland