|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Non-destructive characterisation of defects in devices using infrared thermography |
| Auteur: |
Kaminski, A. Jouglar, J. Volle, C. Natalizio, S. Vuillermoz, P.L. Laugier, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 11 pagina's 1137-1140 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |